美國(guó)磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑

美國(guó)磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑ZP-4D

ZP-4D干粉顯像劑適用于經(jīng)過(guò)滲透并烘箱干燥后的零部件。其優(yōu)勢(shì)在于能夠形成一層非常薄的膜附著在零件表面從而提高對(duì)其細(xì)小缺陷的檢測(cè)。

ZP-4D作為ZP-4B的換代產(chǎn)品能夠勝任ZP-4B所適用的所有方案，具有同樣優(yōu)秀的功能性和技術(shù)性能，同時(shí)作為新干粉顯像劑解決了其他干粉顯像劑固有的粉塵燃爆風(fēng)險(xiǎn)，為客戶提供更加安全可靠的使用環(huán)境。

ZP-4D已被列入AMS 2644合格產(chǎn)品目錄，并被普惠公司認(rèn)證和使用，能夠滿足所有航天航空客戶及其他各行業(yè)客戶的需要。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

均勻且薄的顯像劑膜層

對(duì)細(xì)小缺陷出色的檢測(cè)能力

列入SAE AMS 2644合格產(chǎn)品目錄

普惠準(zhǔn)入資格

符合規(guī)范

AECL

AMS 2644

AMS 2647

ASME

ASTM E1417

ASTM E165

Boeing BAC 5423 PSD 6-46 or 8-4

Boeing PS-21202

GE P3TF2

Honeywell EMS 52309

ISO 3452-2 

MIL-STD-2132

MIL-STD-271

Pratt & Whitney PMC 4356

QPL SAE AMS 2644

包裝形式 & 件號(hào)

5公斤桶 —— 01-3330-20C

美國(guó)磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑ZP-4D 的應(yīng)用范圍

缺陷位置： 表面開(kāi)口缺陷

適用于：

鑄件

渦輪組件

關(guān)鍵部件

缺陷類型：

裂紋

裂縫

氣孔

使用建議

NDT 方法： 滲透檢測(cè)

類型： 類型1

顯像方式： 方式a 干粉